シリコンカーバイド/SiC
炭化ケイ素(SiC)若しくは、シリコンカーバイドは、炭素(C)とケイ素(Si)が1対1で共有結合した結晶材料です。SiC半導体の最大特徴は、バンドギャップが3.25eVと従来のSi半導体に比べて3倍と広いことです。このため、絶縁破壊にいたる電界強度が3MV/cmと10倍程度大きくなります。又、熱伝導性がSiの3倍以上であり、300°C以上の高温においても電気的特性が安定しているばかりか、デバイス化した場合にはデバイス内部での電力損失をSi半導体の1/10近くまで抑えられます。更に、耐薬品性に優れ、放射線に対する耐性もSi半導体より高いという特徴を持っています。こうした特徴により、SiCは従来のSi半導体より小型、低消費電力、高効率のパワー素子、高周波素子、耐放射線性に優れた半導体材料として期待されています。
パワーデバイスのウェハーについては、これまでほぼピュアシリコンが使われてきました。そうして、耐圧600Vを境にSiCが台頭してくるとの傾向が強くなりました。とりわけ電鉄や発電用パワーコンディショナー、自動車などにそのアプリが拡大するとの見方が出てきております。
同人産業では、主に中国メーカーのSiC製品を代理販売しております。又、SiCのスライス、研削・研磨など各種精密加工も提供しております。
4H-SiC製法
昇華法(PVT、物理的気相輸送法)
4H単結晶SiC物性データー
モース硬度 | 9.2 | |||||
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密度 | 3.21g / cm3 | |||||
熱膨張係数 | (4-5)x10-6 / K | |||||
屈折率@750nm | no=2.61, ne=2.66 | |||||
誘電率 | c~9.66 | |||||
熱伝導率 (N型、0.02Ω以下) |
a~4.2 W/cm・K@298K c~3.7 W/cm・K@298K |
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バンドギャップ | 3.23 eV | |||||
破壊電界 | (3-5)x106V / cm |
用途
各種半導体基板:パワーデバイス、高周波デバイス、ヒートシンク、LED、UVセンサ、等
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Φ2"SiC インゴット 4H-N
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Φ6"SiC インゴット
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Φ6"SiC インゴット
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Φ8"SiC インゴット 4H-H、4 °0ff
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Φ4"半絶縁SiCインゴット10~15㎜
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Φ6"SiCインゴットAsGrown
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Φ6"SiCインゴットAsGrown
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4"→3"SiCサイズダウン加工
SiCウェハー/SiC Wafer
基本内容
- 直径:Φ2"、Φ4"、Φ6"、Φ8"
- 厚さ:150µm、350µm、500µm、600µm、900µm、特別指定可能
- ポリタイプ:4H
- MPD:≤0.5/cm2、≤5/cm2、≤10/cm2
- 導電性:N-Type、Semi-insulating
- 抵抗率:N-Type(0.015-0.028Ω・cm)、Semi-insulating(>1x106Ω・cm)
- 面方位:<0001>0 ° /4 °0ff ± 0.5 °
- 受注数量:1枚~
- ※生産能力:1万枚以上/月
- 納期:3週間~、在庫品は即納可能
各サイズ標準仕様
項目 | 2 インチ | 4 インチ | 6 インチ | 8 インチ |
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ポリタイプ | 6H/4H | 4H | 4H | 4H |
導電タイプ | N-Type、Semi-insulating(半絶縁) | |||
直径 | 50.8 ± 0.5mm | 100 ± 0.3mm | 150 ± 0.3mm | 200 ± 0.3mm |
厚さ | 350 ± 25 µ m、500 ± 25 µ m | |||
MPDグレード | ≤ 0.5/cm2、 ≤ 5/cm2、 ≤ 10/cm2 | |||
FWHM | <30arcsec | |||
有効面積 | ≧ 90% | |||
面方位 | N-Type:<0001>4 ° off ± 0.5 °/ Semi-insulating:<0001>0 °off±0.5° | |||
主オリフラ | <10-10> ± 5 ° | |||
主オリフラ長さ | 16 ± 2mm | 32.5 ± 2mm | 47.5 ± 2.5mm | Notch |
副オリフラ | 主オリフラより時計回り90°± 5°( Si面を上にする) | |||
副オリフラ長さ | 8 ± 2mm | 18 ± 2mm | 無 | 無 |
表面仕上 | CMP 研磨、 Ra ≤ 0.3nm | |||
裏面仕上 | 鏡面研磨、Ra ≤ 1nm | |||
TTV | ≤10 µ m | |||
Warp | ≤15 µ m | ≤25 µ m | ≤40 µ m | ≤70 µ m |
※厚み等の仕様内容は特別に指定することも可能でございます。
SiC加工
- 特殊厚み加工
- 特殊形状加工
- Si面・C面研削・研磨加工 2”~8”
- ダイシング加工
使用例
- 基板用:LED基板、パワーデバイス基板、センサー用基板、他
- 機械装置及び加工技術開発用:研削・研磨装置、レーザー加工装置、等
※アズスライス・ウェハー、SiCインゴット等もご提供可能です。
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